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盘点晶振常见的异常与X-RAY检测处理办法

作者: 卓茂光电X-RAY发表时间:2019-03-16 10:54:04

电子行业的从业人员应该都很清楚:晶振在电路中的重要性,其为系统提供了基本的频率信号,如果晶振无法正常工作,将直接导致整个电路异常,然而很多工程师仍对晶振缺乏足够的了解,一旦出现问题......


电子行业的从业人员应该都很清楚:晶振在电路中的重要性,其为系统提供了基本的频率信号,如果晶振无法正常工作,将直接导致整个电路异常,然而很多工程师仍对晶振缺乏足够的了解,一旦出现问题却又束手无策。
一般晶振经常会遇上以下问题:
1.晶振内部水晶破裂;
晶振内部水晶破裂,可能由很多原因造成的,如碰撞、较大幅度的振荡,一般可以用厚泡沫包装起来,一旦出现异常,坚决停止使用;
2.晶振内部水晶片上含有杂质,灰尘等;
晶振内部水晶含有杂质灰尘等,会导致晶振不起振,像生产晶振的生产车间,采用的都是万极无尘车间来进行生产作业的;
3.晶振焊接时,温度过高或时间过长,导致晶振出现性能异常;
晶振作为一种高精密的电子元器件,其对温度、环境都有着非常严格的要求,一般焊锡时温度也需要管控好,如焊接晶振引脚时温度应控制在280度5秒以内或者260度10秒以内作业,切勿在晶振引脚根部焊接。
4.EMC引起的晶振不起振;
一般来说,金属抗电磁干扰的性能更优越于陶瓷制品的,如果EMC较大,则尽量选择金属材质封装效果会更好。
5.晶振在PCB电路板上的布线尽量短直,并尽量靠近MCU,而且不要在晶振下面走信号线,这样能更有效的稳定晶振的使用效果并避免晶振受到电磁干扰。
6.如果PCB板尺寸较大,可以选择将晶振设计在中间位置,可以有效的避免因外力导致PCB板变形带来的负面压力;反之,如果PCB尺寸小,则可以将其设计在中间位置。
关于晶振的不良,有多种因素造成的,如果是外界因素引起的,如灰尘尘埃颗粒等不足引起的可以采用一些检测设备进行检测,更大程度上可以有效的保障晶振产品的有效性。目前市场上主流的检测设备有X-RAY,其采用X光穿透技术直达产品内部,可以清楚的看清产品的内部构造,如灰尘颗粒、晶片断裂等等都有着直观的视觉呈现。
如下图晶振的X-RAY检测实拍图:


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