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x射线无损检测照相成像原理

作者: 卓茂光电X-RAY发表时间:2018-06-22 14:31:49

x射线无损检测到照相方式是通过x射线穿透样品,根据不同材料对光的吸收度不同,再加上卤化银受光挥发形成明暗不同的潜影,目前这种x射线无损检测方式是被广泛使用的非破坏性检测方法。


x射线无损检测
到照相方式是通过x射线穿透样品,根据不同材料对光的吸收度不同,再加上卤化银受光挥发形成明暗不同的潜影,目前这种x射线无损检测方式是被广泛使用的非破坏性检测方法。

x射线是由高电压电子撞击金属靶形成的放射性光线,其波长短,可穿透大量的物质,包括塑料、金属、木板等实心物质。

原理:X射线穿透肉眼无法看穿的物质,底下的胶片受光作用,发生卤化银挥发,在这个过程中由于不同密度的物质对光的吸收度不同(被吸收部分的光越多,底片形成的位置就越暗),于是就出现了明暗层次分化的胶片潜影,技术员根据明暗度的不同分析样品是否存在不良缺陷。

如今多采用电子成像原理,光学感应器通过感应x射线的强弱形成影像,避免了化学成像,更利于图像保存。
 


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