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  • XCT8500 通用型3D/CT射线检测
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XCT8500 通用型3D/CT射线检测

●   XCT8500

●   L1500mm×W1650mm×H2250mm

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产品简介:XCT8500采用COMET开放式射线管设计,缺陷检测能力可达0.5μm.,可实现2D/3D/CT等检测方式,适用于品质检测、三维测量及无损分析。适用于PCB板,芯片,IGBT模块,传感器,保险丝,元器件,塑料件,陶瓷,生物材料,小型铸态件和铝铸件等产品检测,也可以根据客户需求定制3D X射线检测设备。

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  • 产品介绍

XCT8500

XCT8500采用COMET开放式射线管设计,缺陷检测能力可达0.5μm.,可实现2D/3D/CT等检测方式,适用于品质检测、三维测量及无损分析。

▋ 应用优势
●具备平面CT功能(PCT),可应用于印刷线路板、SMT、IGBT、晶圆等3D/CT检测
●具备锥束CT功能,可应用于传感器、继电器、微型马达、材料、铝铸件检测
●便利的360°定点观察模式
●2D气泡检测软件模块(选配)
●3D测量及分析软件模块(选配)
▋ 应用领域
●PCB上焊点焊接质量检测、BGA元器件、集成电路(IC)及其绑定线检测、半导体封装检测及内部连接、电子功率(IGBT)模块检测、Wafe缺陷检测(WLCSP)
●传感器、继电器、保险丝、线圈、微型驱动系统及空气囊控制系统、微型马达(MEMS, MOEMS)、线缆及插头、塑料件,各种材料,如塑料、陶瓷、生物材料,光学元器件、小型钛铸件和铝铸件检测
▋ X射线管参数
光管类型
开放式微焦点透射射线源
操作电压
20 ~ 160KV
操作电流
10 ~ 1000 uA
最大管功率
64 W
最大靶功率
15 W
最小物距(FOD)
250 um
微焦点尺寸
< 1 um
最小缺陷检测能力
<500 nm
▋ 平板探测器参数
平板类型
非晶硅平板探测器(可选)
像素矩阵
1536×1536
视场范围
154mm×154mm
分辨率
5Lp/mm
图像帧率(1×1)
30fps
AD转换位数
16bits
▋ 3D/CT参数(选配功能)
CT扫描周期
20 s
CT重构时间
30 s
▋ 设备性能参数
最大样品尺寸
645mm×635mm
最大检测区域
500mm×500mm
图像几何放大倍率
2500X
输入电源
220V±10%  50-60HZ
控制系统
DELL Precision T7920图形工作站
外形尺寸
L1500mm×W1650mm×H2250mm
设备净重
约2950KG
▋ 外形尺寸

3D xray检测机


 
▋ 实拍效果


                                                               PCB板-CT平扫检测效果(剖面分析)


                                                                              PCB板-CT平扫检测效果 


                                                                       合金棒-3D CT锥束扫描图像效果