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卓茂科技AXI9000:革新电子制造缺陷检测,赋能产线高效升级

作者: 卓茂科技X-RAY发表时间:2026-02-02 15:58:36

在精密电子制造领域,BGA、CSP、QFN等先进封装元件的广泛应用,虽推动了产品性能的飞跃,却也带来了内部焊点缺陷检测的严峻挑战。传统CT检测设备因速度滞后、难以适配产线全检需求,加之人工检测一致性难以保证,成为制约生产效率与品质管控的瓶颈。卓茂科技匠心独运,推出AXI9000高速CT型X射线全自动检测设备,以自研核心技术融合高端硬件,为企业提供高效无损的检测解决方案,驱动生产效率与品质管控能力双提升。

AXI9000

在精密电子制造领域,BGA、CSP、QFN等先进封装元件的广泛应用,虽推动了产品性能的飞跃,却也带来了内部焊点缺陷检测的严峻挑战。传统CT检测设备因速度滞后、难以适配产线全检需求,加之人工检测一致性难以保证,成为制约生产效率与品质管控的瓶颈。卓茂科技匠心独运,推出AXI9000高速CT型X射线全自动检测设备,以自研核心技术融合高端硬件,为企业提供高效无损的检测解决方案,驱动生产效率与品质管控能力双提升。

极速CT扫描:重构产线全检效率新范式
AXI9000设备以创新结构设计为基石,巧妙融合高性能直线电机与精密光栅尺定位系统。这一组合不仅为高速CT扫描提供了稳定的运动控制,更通过精准的位置反馈机制,从硬件层面确保了检测效率与稳定性。设备依托先进的3D/CT重构技术,实现高效层析成像,检测速度达到约2S/FOV的行业领先水平,显著缩短检测周期,有力支撑产线全检需求。同时,设备支持投影张数与分辨率的灵活配置,可根据不同精度与速度要求定制检测方案,轻松适配多样化的生产场景,满足企业个性化需求。

3D检测机

智能3D洞察:精准捕捉隐蔽缺陷,提升检测可靠性
AXI9000搭载卓茂科技自研的智能检测软件,配合154×154mm大尺寸平板探测器,分辨率高达5.0Lp/mm,结合16bits AD转换技术,实现三维成像清晰度与细节捕捉能力的双重提升,为缺陷检测提供可靠的数据支撑。设备可全面覆盖BGA、POP、LGA、QFP、CSP、CHIP、QFN、DIP、IGBT等多类封装元件,精准识别缺件、偏移、连锡、开焊、少锡、气泡、枕头效应等常见缺陷。针对内部空焊、气泡、通孔填充率等二维检测难以判定的隐蔽问题,设备通过自研算法自动分析,稳定识别缺陷特征,有效降低漏检与误检风险,提升检测结果的准确性与可靠性。

全自动运行:无缝适配产线,降低运营成本
AXI9000采用全自动化流程设计,集成专业GPU图像工作站控制系统,实现基板载入、定位、扫描、重建、分析、结果输出全流程自动化操作。这一设计大幅减少了人工干预环节,提升了产线运行的连贯性与稳定性,同时显著降低了人工管理成本。在兼容性方面,设备展现出卓越的适应性,可满足多规格基板检测需求,支持基板尺寸从50×50mm至610×510mm,基板厚度从0.5mm至10mm,上部高度≤50mm,下部高度≤40mm的广泛范围。这一设计全面适配主流电子产品检测标准,无需频繁调整参数即可应对不同生产需求,为企业提供了极大的操作便利性。

安全合规:守护生产环境,保障操作安全
安全性能是AXI9000的核心优势之一。设备严格遵循相关安全规范,辐射控制在<0.5uSv/hr的极低水平,全方位保障操作人员与生产环境安全。这一设计使得设备可放心投入车间常态化使用,为企业营造安全、稳定的生产环境。

卓茂科技AXI9000高速CT型X射线全自动检测设备,凭借其高速CT/3D成像技术与全自动运行优势,为SMT、半导体等精密电子制造领域提供了稳定的质量控制方案。它不仅助力企业提升生产效率与品质管控能力,更推动着精密电子制造行业向更高品质、更高效率的未来迈进。


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