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X-RAY检测IGBT半导体封装模块的优势

作者: 卓茂光电X-RAY发表时间:2019-09-05 09:50:00

采用X射线透射原理对IGBT模块进行检测,检测快捷而准确。当X-Ray检测设备透射IGBT模块时,可以直接观察到IGBT模块的内部有无气泡等缺陷,而且还可直接观察到缺陷的位置。


IGBT半导体封装模块作业过程中,存在较为复杂的技术工艺,然而如何对封装进行质量鉴定检测成了企业最为无奈的一道工序,在市场竞争不断激烈,产品质量标准不断提升以及成本控制方面需要更大的力度,这也是当下IGBT半导体封装产业急需解决的难题。
X射线检测技术采用穿透作业方式,无需拆解产品,如医疗X光胸透等检测类似,只不过X射线工业检测的强度更大。目前X-ray检测设备被广泛用于PCBA线路板,IC芯片,IGBT半导体,锂电池,LED灯珠等等领域。
如下图:为IGBT半导体的检测实拍图,红色为气泡,红色圈大小代表气泡的轮廓大小


采用X射线透射原理对IGBT模块进行检测,检测快捷而准确。当X-Ray检测设备透射IGBT模块时,可以直接观察到IGBT模块的内部有无气泡等缺陷,而且还可直接观察到缺陷的位置。


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