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工厂检查封装后的BGA缺陷有什么方法?

作者: 卓茂光电X-RAY发表时间:2019-09-12 13:47:13

生产加工厂对于生产的电子元器件常常无法做到合格率的保障,最主要的就是像BGA类的封装企业来说,BGA封装后如果单纯的靠后期检测来提升产品质量的方法成本相对较高

生产加工厂对于生产的电子元器件常常无法做到合格率的保障,最主要的就是像BGA类的封装企业来说,BGA封装后如果单纯的靠后期检测来提升产品质量的方法成本相对较高,一般来说工厂目前的检测方式主要有:
1.采用高倍放大镜,通过放大镜来观测焊点的缺陷,但对于焊点内部或者被遮挡的焊点则无法直观的检查到;
2.破坏性抽检,采用抽查的方式对待检产品进行相关检测,不足在于需要拆开产品进行检查,有可能给产品造成不可逆的产品破坏;
3.无损检测,目前市场的无损检测方式主要包括X-RAY检测,磁粉检测和超声波检测,这三种方法当中又以X-RAY检测为主,其主要依赖于X射线穿透的原理对产品进行相关内部缺陷探测,X-RAY的检测方式简单直接,可以通过显示器直观的看到产品是否存在缺陷,而且还能看到缺陷的大小等数据,如下图:


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