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IGBT半导体自动检测,X-RAY设备自动分层更专业

作者: 卓茂光电X-RAY发表时间:2018-08-27 17:44:18

随着电子信息技术的发展,封装小型化和组装的高密度化都对产品的要求更为严格,为了满足市场对产品更为苛刻的要求

随着电子信息技术的发展,封装小型化和组装的高密度化都对产品的要求更为严格,为了满足市场对产品更为苛刻的要求,X-RAY检测设备就成了其中最为典型的代表,其不仅可以检测不可见的锡球焊点(如BGA,IGBT,IC等等),而且还能根据检测后的产品进行及时的分析以便及早发现产品故障。
相比较而言,X-RAY具备许多优点,诸如:无损检测,无需拆散产品即可对产品进行相关检测,特别对产品内部结构的检测具有相当重要的意义。
目前市场上被广泛用于检测缺陷的特点有:
1.虚焊,桥接,焊料不足,气泡,焊错等电子产业;
2.对产品内部不可见检测,如PCBA板出现故障,采用X-RAY对PCBA内部进行探测。
3.分层检测,对多面板或双面板具备分层检测的特点;
如下图:

不分层检测图 分层检测图

 


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